|
Vyučující
|
-
Pálka Karel, doc. Ing. Ph.D.
|
|
Obsah předmětu
|
1. týden UV/VIS spektroskopie 2. týden Atomová spektroskopie, elipsometrie 3. týden Infračervená spektroskopie 4. týden Ramanova spektroskopie 5. týden Termická analýza 6. týden Optická mikroskopie 7. týden Elektronová mikroskopie 8. týden Mikroskopie skenující sondou 9. týden Atomová spektroskopie subvalenčních elektronů 10. týden Difrakční techniky 11. týden Hmotnostní spektroskopie, iontové metody 12. týden Mechanické vlastnosti materiálů 13. týden Charakterizace práškových materiálů
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
|
Přednášení
|
|
Výstupy z učení
|
V rámci předmětu se posluchač seznámí se základy analytických technik užívaných při charakterizaci složení, sktruktury a vlastností materiálů. Absolvent předmětu získá přehled o moderních materiálových analytických metodách, což mu umožní kvalifikovanou volbu vhodné metody při řešení problémů v jeho budoucí práci, ať už při studiu či v zaměstnání v oboru.
Posluchač se po absolvování předmětu orientuje v metodách studia struktury a vlastností materiálů. Je kompetentní zvolit vhodnou metodu analýzy daného materiálu.
|
|
Předpoklady
|
Nejsou požadovány žádné speciální předpoklady.
|
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
Ústní zkouška
Zkouška je ústní. Základní formou zkoušky je rozprava nad vybranými okruhy. Je prověřována míra osvojených znalostí, koncepcí a aplikačních dovedností.
|
|
Doporučená literatura
|
-
Bubert H., Jennet H. Surface and thin film analysis. .
-
Eckertová L., Frank L. Metody analýzy povrchů - Elektronová mikroskopie a difrakce. .
-
Eckertová L. Metody analýzy povrchů - Elektronová spektroskopie. .
-
Frank L., Král J. Metody analýzy povrchů - Iontové, sondové a speciální metody. .
-
Günzler H., Williams A. Handbook of analytical techniques. .
-
Kubínek R., Mašláň M., Vůjtek M. Mikroskopie skenující sondou. .
|