|
Vyučující
|
-
Pálka Karel, doc. Ing. Ph.D.
-
Vlček Miroslav, prof. Ing. CSc.
-
Mošner Petr, prof. Ing. Dr.
|
|
Obsah předmětu
|
UV/VIS spektroskopie, atomová spektroskopie. Disperzní a FT IČ a Ramanova spektroskopie. NMR, EPR spektroskopie. Rentgenová difrakční analýza. Rentgenová vlnově a energiově disperzní analýza. EXAFS. Mössbauerova spektroskopie. Termická analýza - TG, DTA, DSC. Optická mikroskopie a elektronová mikroskopie. Augerova spektroskopie, difrakce elektronů, hmotnostní spektroskopie. Ruthefordův zpětný rozptyl, spektroskopie pomalých a rozptýlených iontů, SIMS. Fotoelektronové spektroskopie - UPS, ESCA. Mikroskopie s elektromechanickou sondou - AFM, STM, fotoakustická mikroskopie. Metody stanovení základních parametrů tenkých vrstev. Metody charakterizace práškových materiálů - morfologie a velikost částic práškových materiálů, stanovení distribuce velikosti částic. Obrazová analýza.
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
|
Monologická (výklad, přednáška, instruktáž)
|
|
Výstupy z učení
|
Anotace: Předmět seznamuje studenty se širokou škálou metod využívaných při charakterizaci materiálů a jejich vlastností. Jsou zde diskutovány jak metody studia objemových vzorků, tak i metody sloužící k analýze povrchů a tenkých vrstev, případně práškových vzorků. Předmět navazuje částečně na znalosti z analytické a fyzikální chemie. Cíl: Cílem předmětu je naučit studenty orientovat se v metodách užívaných pro charakterizaci materiálů a jejich vlastností a osvojí si základy těchto metod, se kterými se mohou setkat v běžné praxi. Kompetence: Posluchač se po absolvování tohoto předmětu orientuje v současných metodách využívaných k charakterizaci materiálů a jejich vlastností. Je kompetentní rozhodnout o volbě vhodné metody studia jejich struktury, resp. vlastností.
Posluchač se po absolvování tohoto předmětu orientuje v současných metodách využívaných k charakterizaci materiálů a jejich vlastností. Je kompetentní rozhodnout o volbě vhodné metody studia jejich struktury, resp. vlastností.
|
|
Předpoklady
|
nespecifikováno
|
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
Ústní zkouška, Písemná zkouška
Na závěr semestru student absolvuje souhrnný test, na základě kterého obdrží zápočet. Při ústní zkoušce zodpoví doplňkové otázky k testu a k dalším studovaným okruhům. Je zde prověřována míra osvojených znalostí, koncepcí a aplikačních dovedností.
|
|
Doporučená literatura
|
-
ECKERTOVÁ L. Metody analýzy povrchů. Elektronová spektroskopie.. Academia, 1990.
-
Chapman. Materials Science on CD-ROM. An interactive learning tool for students. ISBN . 0 412 83660 2.
-
Lindon C. Encyclopedia of Spectroscopy&Spectrometry. Academic Press, 2000. ISBN 1234.
-
NĚMCOVÁ I., ČERMÁKOVÁ L., RYCHLOVSKÝ P. Spektrometrické analytické metody. Praha: Karolinum, nakladatelství UK, 1997.
-
Šulcová P., Beneš L. Experimentální metody v anorganické technologii. Pardubice: Univerzita Pardubice, 2002.
-
Vickerman, John C. Surface analysis : the principal techniques. Chichester: John Wiley & Sons, 1997. ISBN 0-471-97292-4.
|