Předložená disertační práce se zabývá studiem kinetiky krystalizace ve vybraných chalkogenidových systémech (Se, Se1-xTex, (GeS2)x(Sb2S3)1-x). Ke studiu dané problematiky byly využity dva základní přístupy ? přímé sledování růstu krystalů v daných materiálech pomocí mikroskopických metod a nepřímé sledování krystalizačního procesu za pomoci experimentálních technik sledujících změnu makroskopické vlastnosti daného vzorku v průběhu krystalizačního procesu (diferenciální skenovací kalorimetrie, rentgenová difrakční analýza, měření elektrické vodivosti). Kombinací několika experimentálních metod bylo možné získat široké povědomí o složitém krystalizačním procesu probíhajícím v daných systémech.
Anotace v angličtině
This Ph.D. thesis deals with crystallization kinetics study in chosen chalcogenide systems (Se, Se1-xTex, (GeS2)x(Sb2S3)1-x). Two different approaches were applied: direct observation of crystal growth in chosen materials using microscopic methods, and indirect observation of the crystallization process based on measurements of macroscopic property of a sample during the crystallization process (differential scanning calorimetry, X-ray diffraction, measurement of electrical conductivity). Combining the two approaches it was possible to find a complex and interconnected view of the crystallization process in chosen systems.
Klíčová slova
růst krystalů, kinetika krystalizace, chalkogenidová skla, tenké vrstvy, Se, Se1-xTex, (GeS2)x(Sb2S3)1-x, mikroskopie, DSC, elektrická vodivost, TMA, XRD
Předložená disertační práce se zabývá studiem kinetiky krystalizace ve vybraných chalkogenidových systémech (Se, Se1-xTex, (GeS2)x(Sb2S3)1-x). Ke studiu dané problematiky byly využity dva základní přístupy ? přímé sledování růstu krystalů v daných materiálech pomocí mikroskopických metod a nepřímé sledování krystalizačního procesu za pomoci experimentálních technik sledujících změnu makroskopické vlastnosti daného vzorku v průběhu krystalizačního procesu (diferenciální skenovací kalorimetrie, rentgenová difrakční analýza, měření elektrické vodivosti). Kombinací několika experimentálních metod bylo možné získat široké povědomí o složitém krystalizačním procesu probíhajícím v daných systémech.
Anotace v angličtině
This Ph.D. thesis deals with crystallization kinetics study in chosen chalcogenide systems (Se, Se1-xTex, (GeS2)x(Sb2S3)1-x). Two different approaches were applied: direct observation of crystal growth in chosen materials using microscopic methods, and indirect observation of the crystallization process based on measurements of macroscopic property of a sample during the crystallization process (differential scanning calorimetry, X-ray diffraction, measurement of electrical conductivity). Combining the two approaches it was possible to find a complex and interconnected view of the crystallization process in chosen systems.
Klíčová slova
růst krystalů, kinetika krystalizace, chalkogenidová skla, tenké vrstvy, Se, Se1-xTex, (GeS2)x(Sb2S3)1-x, mikroskopie, DSC, elektrická vodivost, TMA, XRD
V úvodu jednání komise ustanovené k obhajobě disertační práce Ing. Bartáka předseda komise stručně seznámil komisi s vyjádřením školícího pracoviště a vedoucího disertační práce a představil disertanta komisi. Poté byl Ing. Barták požádán, aby komisi představil teze a výsledky své disertační práce. Poté oponenti disertační práce seznámili komisi se svými posudky a proběhla jejich diskuze s Ing. Bartákem, který jejich dotazy zodpověděl. Pak následovala obecná rozprava a diskuze členů komise s disertantem.