Práce se zabývá přípravou tenkých vrstev chalkogenidů o složení GeSe3, (GeSe3)95Ag5 a (GeSe3)95Cu5 z objemových vzorků příslušných složení. K přípravě tenkých vrstev chalkogenidů byla použita metoda pulsní laserové depozice (PLD). Dále jsou studovány strukturní, elektrické a optické vlastnosti připravených tenkých vrstev, společně s jejich chemickým složením. Zjištěné vlastnosti jsou dále srovnávány s objemovými vzorky, s literaturou a mezi tenkými vrstvami navzájem.
Anotace v angličtině
This thesis is focused on preparation of thin films of chalcogenides of compositions GeSe3, (GeSe3)95Ag5 and (GeSe3)95Cu5 from bulk samples of appropriate compositions. Pulsed laser deposition (PLD) method was used for the preparation of the thin films of the chalcogenides. Also structural, electrical and optical properties of the prepared thin films are studied in this thesis, together with their chemical composition. The found properties of the thin films are also compared with the properties of the bulk samples, with literature and with the thin films each other.
Klíčová slova
tenké vrstvy, amorfní chalkogenidy, depozice, vlastnosti
Práce se zabývá přípravou tenkých vrstev chalkogenidů o složení GeSe3, (GeSe3)95Ag5 a (GeSe3)95Cu5 z objemových vzorků příslušných složení. K přípravě tenkých vrstev chalkogenidů byla použita metoda pulsní laserové depozice (PLD). Dále jsou studovány strukturní, elektrické a optické vlastnosti připravených tenkých vrstev, společně s jejich chemickým složením. Zjištěné vlastnosti jsou dále srovnávány s objemovými vzorky, s literaturou a mezi tenkými vrstvami navzájem.
Anotace v angličtině
This thesis is focused on preparation of thin films of chalcogenides of compositions GeSe3, (GeSe3)95Ag5 and (GeSe3)95Cu5 from bulk samples of appropriate compositions. Pulsed laser deposition (PLD) method was used for the preparation of the thin films of the chalcogenides. Also structural, electrical and optical properties of the prepared thin films are studied in this thesis, together with their chemical composition. The found properties of the thin films are also compared with the properties of the bulk samples, with literature and with the thin films each other.
Klíčová slova
tenké vrstvy, amorfní chalkogenidy, depozice, vlastnosti