Sulfid cínaty patří mezi polovodiče zkoumáné zejména pro své potenciální využití v oblasti termoelektřiny nebo fotovoltaiky. Za účelem prozkoumání termoelektrických vlastností byla připravena série monokrystalických vzorků Sn1-xFexS, kde x = 0; 0,001; 0,01; 0,05 a 0,1. Charakterizace materiálu byla provedena pomocí práškové rentgenové difrakční analýzy (PXRD). Na vzorcích byly měřeny teplotní závislosti elektrické vodivosti Hallova koeficientu a Seebeckova koeficientu a to v teplotním rozmezí - 190 °C až 190 °C.
Anotace v angličtině
Tin sulphide is one of the semiconductors being investigated especially for its potencial use in thermoelectrics or photpvoltaics. In order to investigate the thermoelectric properties, a series of Sn1-xFexS single crystals were prepared, where x = 0; 0.001; 0.01; 0.05 and 0.1. The material characterization of the materials was performed by powder X-ray diffraction analysis (PXRD). The temperature dependences of the electrical conductivity, Hall coefficient and Seebeck coefficient were measured on these samples over the temperature range -190 °C to 190 °C.
Tin sulfide, iron, doping, single crystal, thermoelectricity, semiconductor
Rozsah průvodní práce
-
Jazyk
CZ
Anotace
Sulfid cínaty patří mezi polovodiče zkoumáné zejména pro své potenciální využití v oblasti termoelektřiny nebo fotovoltaiky. Za účelem prozkoumání termoelektrických vlastností byla připravena série monokrystalických vzorků Sn1-xFexS, kde x = 0; 0,001; 0,01; 0,05 a 0,1. Charakterizace materiálu byla provedena pomocí práškové rentgenové difrakční analýzy (PXRD). Na vzorcích byly měřeny teplotní závislosti elektrické vodivosti Hallova koeficientu a Seebeckova koeficientu a to v teplotním rozmezí - 190 °C až 190 °C.
Anotace v angličtině
Tin sulphide is one of the semiconductors being investigated especially for its potencial use in thermoelectrics or photpvoltaics. In order to investigate the thermoelectric properties, a series of Sn1-xFexS single crystals were prepared, where x = 0; 0.001; 0.01; 0.05 and 0.1. The material characterization of the materials was performed by powder X-ray diffraction analysis (PXRD). The temperature dependences of the electrical conductivity, Hall coefficient and Seebeck coefficient were measured on these samples over the temperature range -190 °C to 190 °C.