|
|
Hlavní nabídka Prohlížení IS/STAG
Nalezené předměty, počet: 1
Stránkování výsledků vyhledávání
Nalezeno 1 záznamů
Export do Xls
Informace o předmětu
KOANCH / SM133
:
Popis předmětu
Pracoviště / Zkratka
|
KOANCH
/
SM133
|
Akademický rok
|
2023/2024
|
Akademický rok
|
2023/2024
|
Název
|
Metody charakterizace materiálů
|
Způsob zakončení
|
Státní závěrečná zkouška
|
Způsob zakončení
|
Státní závěrečná zkouška
|
Akreditováno / Kredity
|
Ano,
0
Kred.
|
Forma zakončení
|
-
|
Forma zakončení
|
-
|
Rozsah hodin
|
|
Zápočet před zkouškou
|
Ne
|
Zápočet před zkouškou
|
Ne
|
Automatické uznávání zápočtu před zkouškou
|
Ne
|
Počítán do průměru
|
ANO
|
Vyučovací jazyk
|
Čeština
|
Obs/max
|
|
|
|
Automatické uznávání zápočtu před zkouškou
|
Ne
|
Letní semestr
|
5 / -
|
0 / -
|
0 / -
|
Počítán do průměru
|
ANO
|
Zimní semestr
|
0 / -
|
0 / -
|
0 / -
|
Opakovaný zápis
|
NE
|
Opakovaný zápis
|
NE
|
Rozvrh
|
Ano
|
Vyučovaný semestr
|
Letní semestr
|
Vyučovaný semestr
|
Letní semestr
|
Minimum (B + C) studentů
|
nestanoveno
|
Volně zapisovatelný předmět |
Ano
|
Volně zapisovatelný předmět
|
Ano
|
Vyučovací jazyk
|
Čeština
|
Počet dnů praxe
|
0
|
Počet hodin kontaktní výuky |
|
Hodnotící stupnice |
A|B|C|D|E|F |
Periodicita |
každý rok
|
Periodicita upřesnění |
|
Základní teoretický předmět |
Ne
|
Profilující předmět |
Ne
|
Základní teoretický předmět |
Ne
|
Hodnotící stupnice |
A|B|C|D|E|F |
Nahrazovaný předmět
|
Žádný
|
Vyloučené předměty
|
Nejsou definovány
|
Podmiňující předměty
|
Nejsou definovány
|
Předměty informativně doporučené
|
Nejsou definovány
|
Předměty,které předmět podmiňuje
|
Nejsou definovány
|
Graf četnosti udělených hodnocení studentům napříč roky:
Obrázek PNG
,
XLS
|
Cíle předmětu (anotace):
|
seznámit posluchače s metodami užívanými pro charakterizaci materiálů a to jak s metodami, se kterými se mohou setkat v běžné praxi, tak s nejmodernějšími technikami užívanými v současnosti jen na špičkových pracovištích
|
Požadavky na studenta
|
zkouška
|
Obsah
|
Vedle klasických metod charakterizace objemových vzorků (rentgenová analýza, termická analýza, metody molekulové, atomové a hmotnostní spektroskopie) se probírají rovněž i moderní metody analýzy povrchů objemových vzorků, resp. tenkých vrstev různých materiálů. Vedle mikroskopie s elektromechanickou sondou jsou probrány metody založené na interakci elektronů (např. elektronová mikroskopie a difrakce, AES, elektronová mikrosonda, MS) , iontů (např. ISS, RBS, SIMS, IMP) a fotonů (např. PES, XFS, XAS) s povrchem materiálu, resp. založené na interakci elektrického pole s látkou.
|
Aktivity
|
|
Studijní opory
|
|
Garanti a vyučující
|
|
Literatura
|
-
Základní:
L. Eckertová. Metody analýzy povrchů.. Academia Praha, 1990.
-
Základní:
I. Němcová, L. Čermáková, P. Rychlovský. Spektrometrické analytické metody. Karolinum Praha, 1997.
-
Doporučená:
Lindon C. Encyclopedia of Spectroscopy&Spectrometry. Academic Press, 2000. ISBN 1234.
-
Doporučená:
Materials Science on CD-ROM. An interactive learning tool for students.
-
Doporučená:
J. C. Vickerman. Surface analysis. The principal techniques. Willey, 1977.
|
Předpoklady - další informace k podmíněnosti studia předmětu |
- |
Získané způsobilosti |
získání uceleného přehledu o možných metodách charakterizace materiálů s využitím různých fyzikální jevů, jejich přednostmi a limity |
Vyučovací metody |
|
Hodnotící metody |
-
|
|
|
|